膜厚仪的使用方法如下：

　　1、测定准备：确保电池正负极方向正确无误后设定。探头的选择和设定：在探头上有电磁式和涡电流式2种类型。对准测定对象，在本体上进行设定。

　　2、探头的选择和安装方法：确认电源处于OFF状态，与测定对象的质地材质接触，安装LEP-J或LHP-J。

　　3、调整：确认测定对象已经被调整。未调整时要进行调整。

　　4、测定：在探头的末端加一定的负荷，即使用【一点接触定压式】。抓住与测定部接近的部分，迅速在与测定面成垂直的角度按下。每次都要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。使用管状的东西连续测定平面时，如果采用探头适配器，可以更加稳定地进行测定。

　　膜厚仪又名膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。台式的荧光X射线膜厚仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。